コモンモードチョークの漏れインダクタンスの測定方法

Nov 07, 2020

ご伝言

漏れインダクタンスは、磁気コンポーネント、特に磁気コンポーネントの重要なパラメータです。コモンモードチョークEMI対策、電源、通信機器などに使用されます。漏れインダクタンスの測定および制御方法を理解することは、エンジニアがフィルタの性能を最適化し、電磁干渉を低減し、システムの信頼性を向上させるのに役立ちます。

Inductor 10A ChokeInductor 10A Choke

 

この記事では、漏れインダクタンスとは何か、それが重要である理由、コモンモードチョークの漏れインダクタンスの測定方法、およびその値に影響を与える要因について説明します。

漏れインダクタンスとは何ですか?

理想的なトランスまたは結合インダクターでは、一方の巻線によって生成されるすべての磁束がもう一方の巻線と完全に結合します。ただし、実際の磁気コンポーネントでは、一部の磁束が巻線間で完全には結合しません。この結合されていない磁束により、漏れインダクタンスが発生します。

 

漏れインダクタンスは、磁気部品の両方の巻線を結合しない漏れ磁束によって生じるインダクタンスとして定義できます。

コモンモードチョークの場合、次のような要因により 2 つの巻線が完全に結合されていないため、漏れインダクタンスが存在します。

  • 巻線配置
  • 巻線間の距離
  • コア構造
  • 断熱材の厚さ
  • 製造公差

コモンモードチョークは主にコモンモードノイズを抑制するように設計されていますが、その漏れインダクタンスは差動モードインピーダンスと全体的なEMIフィルタの性能にも影響します。

コモンモードチョークにおいて漏れインダクタンスが重要なのはなぜですか?

漏れインダクタンスはコモンモードチョークの電気特性に直接影響します。

1. EMIフィルタの性能への影響

コモンモード チョークは、スイッチング電源、コンバータ、電子機器によって生成される高周波干渉を低減するために、EMI フィルタで広く使用されています。{0}

 

漏れインダクタンスは、特に差動モードのノイズに対して追加のインピーダンスに寄与します。漏れインダクタンスを適切に制御すると、より広い周波数範囲にわたってノイズ抑制を向上させることができます。

 

2. 高周波特性への影響-

高周波では、寄生パラメータがますます重要になります。

過剰な漏れインダクタンスは、次の原因となる可能性があります。

  • 共振の問題
  • 濾過効率の低下
  • 予期せぬインピーダンス特性

したがって、エンジニアは寄生容量や巻線構造とともに漏れインダクタンスを評価する必要があります。

 

3. 電力システムの信頼性への影響

電力変換アプリケーションでは、制御されていない漏れインダクタンスが次の原因となる可能性があります。

  • 電圧スパイク
  • スイッチングノイズ
  • 追加の損失
  • 効率の低下

漏れインダクタンスの最適化は、高周波スイッチング アプリケーションにとって特に重要です。{0}

コモンモードチョークの漏れインダクタンスを測定するにはどうすればよいですか?

漏れインダクタンスを測定する最も一般的な方法は、LCR メーターまたはインピーダンス アナライザーを使用することです。

方法 1: LCR メーターの測定

 

ステップ 1: コモンモードチョークを切断する

他のコンポーネントからの干渉を避けるために、回路からコンポーネントを削除するか、巻線端子を絶縁してください。

 

ステップ 2: 1 つの巻線を短くする

2 巻線コモンモード チョークの場合:{0}:

  • 1 つの巻線を LCR メーターに接続したままにしてください
  • -もう一方の巻線を短絡します

1 つの巻線を短絡すると、相互結合によって生じる主インダクタンスが測定に含まれることがなくなります。

 

ステップ 3: インダクタンスを測定する

残りの巻線にLCRメーターを接続し、インダクタンス値を測定します。

測定値はコモンモードチョークの漏れインダクタンスを表します。

 

ステップ 4: テスト条件を記録する

漏れインダクタンスの測定には、次のようなテスト条件を含める必要があります。

  • テスト頻度
  • 測定電圧
  • 温度
  • 機器の精度

漏れインダクタンスは周波数によって変化する可能性があるため、一貫したテスト条件が重要です。

 

漏れインダクタンス試験装置

漏れインダクタンス測定に使用される一般的な機器には次のものがあります。

1.LCRメーター

LCR メーターは一般的に次の用途に使用されます。

  • インダクタンス測定
  • 抵抗測定
  • 静電容量測定

ラボでの試験や製造検査に適しています。

2. インピーダンスアナライザー

インピーダンス アナライザーは、より詳細な周波数特性を提供し、次の場合に役立ちます。

  • 高周波磁気コンポーネント-
  • EMIフィルタ解析
  • 高度な設計検証

3. 変圧器アナライザー

磁気コンポーネントを製造するメーカーの場合、変圧器アナライザは以下を自動的にテストできます。

  • 漏れインダクタンス
  • 巻数比
  • 巻線抵抗
  • インダクタンス

これらの機器により、量産時の品質管理が向上します。

漏れインダクタンスに影響を与える要因

コモンモードチョークの漏れインダクタンスは、いくつかの設計および製造要因によって異なります。

要素 漏れインダクタンスへの影響
巻取り距離 通常、距離が長くなると漏れインダクタンスが増加します
巻線配置 優れた結合により漏れインダクタンスが低減
コア構造 コアの設計が異なると磁束分布が変化する
ターン数 巻き数が増えると漏れの影響が増大する可能性があります
断熱材の厚さ 絶縁距離が大きいと漏れ磁束が増加する可能性があります
製造公差 バリエーションは一貫性に影響を与える

コモンモードチョークの漏れインダクタンスを低減するにはどうすればよいですか?

エンジニアは最適化された磁気設計を通じて漏れインダクタンスを低減できます。

1. 巻線のカップリングを改善する

巻線間の結合が緊密になると、両方の巻線を結ぶ磁束が増加し、漏れ磁束が減少します。

一般的な方法には次のようなものがあります。

巻線を近づけて配置する

最適化された巻線配置の使用

巻線のオーバーラップを増やす


2. コア設計の最適化

コアの材質と構造は磁束分布に影響を与えます。

適切なものを選択:

フェライトコア

トロイダルコア

EEコア

必要な漏れインダクタンス特性の達成に役立ちます。


3. 巻線構造の調整

巻線方法が異なると、漏れインダクタンスに大きな影響を与える可能性があります。

例としては次のものが挙げられます。

層巻き

バイファイラー巻き

断面巻

最適な構造はアプリケーションの要件によって異なります。


漏れインダクタンスとコモンモードインダクタンスの違い

漏れインダクタンスとコモンモードインダクタンスは関連していますが、異なるパラメータです。

パラメータ コモンモードインダクタンス 漏れインダクタンス
主な機能 コモンモードノイズを抑制 差動インピーダンスに影響を与える
磁気カップリング 結合巻線に依存 未結合磁束が原因
応用 EMIフィルタリング ノイズ制御と回路動作
設計目標 通常はより高い値 管理値

コモンモードチョークは、効果的なEMI抑制を達成するために両方のパラメータのバランスをとる必要があります。

漏れインダクタンスを制御したコモンモードチョークのアプリケーション

コモンモードチョークは以下の分野で広く使用されています。

スイッチング電源

バッテリー充電システム

カーエレクトロニクス

産業用制御機器

再生可能エネルギーシステム

通信機器

家電

これらのアプリケーションでは、安定した漏れインダクタンスが一貫した EMI 性能の維持に役立ちます。

Xfullstar が磁気コンポーネントの漏れインダクタンスを制御する方法

磁気部品の専門メーカーとして、Xfullstar は、さまざまな EMI 抑制要件に合わせて設計されたカスタマイズされたコモンモード チョークとインダクタを提供しています。

最適化により:

コアの選択

巻線設計

製造工程

品質テスト手順

Xfullstar は、お客様が信頼性の高い電気的性能と安定した生産品質を達成できるよう支援します。

特定のインダクタンス値、漏れインダクタンス制御、および周波数特性を必要とするアプリケーションには、カスタマイズされたソリューションが利用可能です。

よくある質問

1.コモンモードチョークの漏れインダクタンスとは何ですか?

漏れインダクタンスは、コモンモードチョークの巻線間で完全には結合しない磁束によって生成されるインダクタンスです。

2.漏れインダクタンスはどのように測定しますか?

漏れインダクタンスは、通常、1 つの巻線を短絡し、残りの巻線を LCR メーターまたはインピーダンス アナライザーで測定することによって測定されます。

3.漏れインダクタンスは常に低いほうが良いのでしょうか?

必ずしもそうとは限りません。最適な漏れインダクタンスはアプリケーションによって異なります。一部の設計では、特定の EMI フィルタ特性を達成するために、制御された漏れインダクタンスが必要です。

4.漏れインダクタンスが大きくなる原因は何ですか?

漏れインダクタンスが大きくなる原因は次のとおりです。

巻線結合不良

巻取り距離が大きい

不適切なコア設計

断熱材間隔の増加

5.漏れインダクタンスはEMI性能に影響を与える可能性がありますか?

はい。漏れインダクタンスは差動モード インピーダンスに影響を与え、EMI フィルタの全体的な性能に影響を与える可能性があります。

結論

漏れインダクタンスは重要なパラメータです。コモンモードチョークデザイン。漏れインダクタンスの正確な測定と適切な制御は、エンジニアがEMI抑制性能を向上させ、回路の信頼性を最適化し、安定した製品性能を達成するのに役立ちます。

測定方法、影響要因、設計手法を理解することで、エンジニアは厳しい電気要件を満たすコモンモードチョークを選択して開発できます。

詳細については、こちらまでお問い合わせください。sales@xfullstar.com

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